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Detalles del artículo

Publicación
Título: STATISTICAL SUPERVISED LEARNING WITH ENGINEERING DATA: A CASE STUDY OF LOW FREQUENCY NOISE MEASURED ON SEMICONDUCTOR DEVICES
Título de la revista: INTERNATIONAL JOURNAL OF ADVANCED MANUFACTURING TECHNOLOGY
Tipo de aportación: ARTICULO
Número de volumen: 120
Páginas de la publicación: 5832 - 5853
Año de la publicación: 2022
Autores: MARIA LUZ GÁMIZ PÉREZ
ANTON KALEN
RAFAEL NOZAL-CAÑADAS
ROCÍO RAYA MIRANDA

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